Программа расчета обеднения поверхности диэлектрика щелочными элементами при электронно-лучевой обработке

Разработано программное обеспечение для расчета обеднения поверхности диэлектрика щелочными элементами при электронно-лучевой обработке диэлектрика (многокомпонентные оксиды стеклообразующих элементов) с целью модификации поверхности.
Процесс формирования поверхности стекла при электронном обучении базируется на тепловом действии электронного луча, и стимуляция: изменения состава поверхностного слоя протекает по термическому каналу. Предварительный технологический подогрев стекла, кроме активации чисто поверхностных процессов удаления сорбированной воды и ионов ОН (дегидратация и де гидроксилирование), вызывает выход на поверхности элементов с положительной энергией сегрегации (например, натрий).
Программный пакет позволяет оценить глубину обеднения поверхностного слоя щелочными элементами материала и степень десорбции элементов из модифицированного слоя от температуры.

ВложениеРазмер
РОПЭ ЭЛО.pdf594.37 КБ